1，概述

 
        高速LIV激光器测试系统是利用我司多年高速采集技术精确测试半导体激光器LD、TOSA或BOSA激光器的光电性能参数与性能曲线的专用设备，根据光输入接口的选择，可测试各种不同波长的激光器性能参数。
       上位机可显示阈值电流、正向电压、一定条件下的发射光功率和背光电流、等效电阻等多种参数，自动绘制L-I、V-I、Im-I特性参数曲线；并由此计算得到 LD的其它特性参数，如：阈值电流对应的电压（Vth），指定功率点对应的电流（Iop），指定功率点对应的电压（Vop）；可保存测试的数据，同时根据需要对所有测试数据进行打印输出。
       本系统可兼容多种封装的激光器，如独立型、共阳型和共阴型等。
 
 
2，产品特点
 

• 系统由上位机和下位机两部分组成，友好的人机交互界面
•   
• 驱动电流范围：可定制100mA，500ma等各种规格电流
•   
• 光功率测试范围：0-10mW
•   
• 背光电流测试范围：0-2500uA
•   
• 测试速度快,1-2秒即可测试一个器件
•  
• 自动绘制 L-I、V-I 、Im-I 特性参数曲线 
•  
• 计算 LD 的其它特性参数，如：Rs（等效电阻）、SE（斜效率）、Pop(计量点处的功率)、Ith（阈值）、Vop（计量点处的电压）、Im（计量点处的背光）、Kink（Kink点）；阈值电流，Rs，Kink 点等，并自动评定是否合格
•  
• 电源和加电开关具备缓冲电保护电路,防ESD 和浪涌等保护
•  

3，技术指标