多模光源的高阶模与低阶模

　　光线能够沿着许多可能路径在多模光纤中传输，这些路径具有不同的损耗特性。限制在光纤纤芯的中心的路径或者模式称为“低阶模”，而那些接近纤芯/包层分界面传输的路径或模式称为“高阶模”。当测量多模光纤损耗的时候，这种区分很重要。由于光纤的弯曲，高阶模更容易损耗。当弯曲过紧时，高阶模完全损失掉，而许多低阶模继续沿光纤传播。由于纤芯在连接点处不重合，高阶模也会首先被衰减。在使用 LED 光源时，为了提高多模光纤损耗测量的可重复性和一致性，标准建议围绕被称作“光纤绕模器”的圆柱体包裹与光源相连接的测试光缆。在测试信号到达 被测试链路之前，这些在光缆内部的紧密包层或弯曲分离出高阶模。如果绕模器包层应用于 LED 光源跳线，测试中的光纤被测损耗将会降低。我们观察到，使用绕模器包层与不使用绕模器包层，被测损耗有0.15 dB 的差异。