定制半导体激光器老化测试仪器_光纤测试/光电测试/光学测试/稳定光源高速光功率计/极性测试/LIV测试/激光测试/线序测试

一，产品简介
    半导体激光器老化测试仪器是我司根据客户需求定制的用于TO、LD器件老化并为多个LD器件提供独立恒定电流源并长期监测其电流的测试系统。
二，特点及功能：
    1，单台设备支持100个LD器件老化，1～500ma驱动电流可调；
    2，每次加电可通过设定值或者旋钮人工调节从0开始到设定稳定电流源；
3，设备提供多种保护以及冗余电路系统，保证器件不会因电网波动或者其他原因而导致的损坏；
4，我司系统具有多种器件保护功能，可最大限度的保护器件，以免受到外界或者电力系统的尖峰脉冲冲击。
    5，本测试系统有一个测试仪和一个老化板组成；
6，测试系统带有5寸彩色LCD，故障提示，便于观察；
7，测试系统可以配备电脑监控软件；
8，温度监控；
三，仪表原理：
上图提供设备的基本架构，因为电流较大，单台设备可以提供50路-100路恒流源，通过电缆与老化板连接。

四，保护措施：
1、上电保护：为保证被测器件不被大电流或高电压冲击损坏，电源具有可靠的防浪涌电路。此外，老化上电时采用逐步增大电流。
2、下电保护：为保证被测器件在下电时减小应力，采用缓慢下电的措施。此外，在意外停电时，加载给COS器件的电压和电流都会彻底关断，不会出现反冲或重复加电的情况。

本测试系统，可按需定制。

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