TO激光器的老化是生产中在一种恒高温、恒大电流、长时间、封闭环境的条件下的ort测试和筛检的环节，目的是加速使得TO激光器长时间保持一个比较稳定的工作状态，通过测试激光器的背光等参数随时间的变化量，来判断其稳定性和可靠性，其本质是对激光器半导体芯片的老化。

     老化条件的制定每家各异，每种产品不同，设定的条件有的比参考的要严苛或者松弛等，但是制成类（非寿命类）老化试验的判断条件基本上是一致的，即不允许寿命类死亡，超负荷类死亡，以及LIV参数（阈值电流Ith，背光电流Im，正出光斜效率SE）老化前后的变化比不超过10%（或者更严苛）。

      产品的寿命类死亡，顾名思义即为产品经由一定条件下的自然灯灭并无法持续供能的状态，就是俗话说的“坏了”,好比钨丝灯1万小时寿命的说法。那“状似”寿命类死亡的现象的描述可以是，老化前后的常温时候LIV测试各项参数正常，且参数变化比符合要求，但是老化进程中激光器几乎没有产生背光电流，类似一种休眠状态，权且称之为“假死亡”。

     现有的TO激光器生产环境下的老化过程的判断依据是，通过监测每颗产品的背光电流数值的变化比不超过相应的标准。LD激光器的背光电流是由位于产品结构底部的PD（光电二极管）接收半导体激光器的背端发光产生的光响应电流（微安数量级），可通过A/D转换和采集到。

     如图1是， 64颗产品老化1.5个小时Im（背光电流）每隔5分钟测试的变化曲线，图2是摘取出当中有类似“假死亡”现象的产品的Im变化曲线。

图1

图2

    为避免设备方面的影响，做了如下的排查动作：1、该产品接插件孔位的通路情况；2、100mA老化过程中持续给电的情况，是否有老化系统给电衰减的情况发生；3、老化过程中，Im监测功能是否突然有失效。经排查，该三项都是OK，即老化流程正常进行，那只有一种推断，就是该种产品的特性如此。

    做推断的结论，可以用数学预测的方式，其原理是用已经发生的时间点Im数值的变化规律来预测下个时间点的数值。

    取第29颗产品举例说明，利用第29颗产品的前面18个数据来得出拟合曲线（虚点曲线），y = 0.036x4- 1.9073x3 + 38.672x2 - 361.34x + 1341；然后预测该产品第二次老化数据的第19个数据，也就是下一个时刻的Im值为：7.4625uA，实测值为12.7uA。（拟合曲线选取的点越多，拟合效果越好，这里的数据点较少）可以基本推断，该产品的特性如此，并非产品老化失效，也就是文中描述的“假死亡”现象。

尚需要补充内容，是否存光电二极管（PD）的在该老化条件下的响应特性随时间降低的可能性。依据光电二极管的温度特性曲线（参考王友庆的《光电技术·第三版》），同等光照和偏置电压下，在一定温度范围内，其光响应电流随温度升高而增大。而长时间加偏压，由光电二极管自身含阻抗和有电流的作用，会产生一定的热量，使得暗电流和响应电流同时加大，所以PD没有随时间响应度降低趋势的可能性。

    综上所述，存在部分半导体激光器有“假死亡”的现象，并且可以用数学的方式推理出其存在的可能性。但就判断该部分器件的使用寿命情况和单纯判断“好坏”，还需要更多的数据做推理和验证。

作者：William

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